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您的位置:網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > WP390A-FA-E1-LNSJ 太赫茲雷達(dá)與微波雷達(dá)在無(wú)接觸物位測(cè)量中的差異是什么? 太赫茲雷達(dá)和微波雷達(dá)在無(wú)接觸物位測(cè)量中的適用場(chǎng)景差異主要體現(xiàn)在精度、抗干擾能力和適用介質(zhì)類型上。太赫茲雷達(dá)憑借其高精度和強(qiáng)抗干擾能力,更適合高精度測(cè)量和復(fù)雜環(huán)境;而微波雷達(dá)則在惡劣環(huán)境和常規(guī)介質(zhì)測(cè)量中更具優(yōu)勢(shì)。
一、太赫茲雷達(dá):高精度與復(fù)雜環(huán)境的“儀器”
核心優(yōu)勢(shì)
厘米級(jí)精度:太赫茲頻段(0.1-10THz)波長(zhǎng)短,可實(shí)現(xiàn)厘米級(jí)距離分辨率,適合高精度測(cè)量場(chǎng)景。
抗干擾能力強(qiáng):窄波束設(shè)計(jì)減少多徑干擾,適合泡沫、湍流等復(fù)雜環(huán)境。
穿透性強(qiáng):可穿透輕度泡沫、蒸汽,保持測(cè)量穩(wěn)定性。
適用場(chǎng)景
高精度測(cè)量:如醫(yī)藥原料儲(chǔ)罐、化工反應(yīng)釜等,需毫米級(jí)精度的場(chǎng)景。
復(fù)雜介質(zhì):含泡沫、懸浮物的介質(zhì),太赫茲雷達(dá)能有效控制干擾。
惡劣環(huán)境:高溫、高壓、腐蝕性介質(zhì),太赫茲雷達(dá)通過(guò)非接觸設(shè)計(jì)避免磨損。
二、微波雷達(dá):惡劣環(huán)境的“選手”
核心優(yōu)勢(shì)
穿透力強(qiáng):低頻段(6GHz-10GHz)微波可穿透粉塵、蒸汽,適合惡劣工況。
性價(jià)比高:技術(shù)成熟,成本較低,適合常規(guī)介質(zhì)測(cè)量。
抗腐蝕性:非接觸設(shè)計(jì)避免介質(zhì)腐蝕,適合酸、堿等腐蝕性介質(zhì)。
適用場(chǎng)景
常規(guī)介質(zhì):如水、油、顆粒物料等,微波雷達(dá)通過(guò)阻抗變化檢測(cè)液位。
惡劣環(huán)境:電廠灰渣倉(cāng)、水泥廠料倉(cāng)等粉塵、蒸汽環(huán)境。
低成本需求:預(yù)算有限且精度要求不高的場(chǎng)景。
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